SXJS-IV型智(zhi)能(neng)化(hua)介質(zhi)損耗測試(shi)儀技(ji)術指標(biao)

一、概說(shuo)

SXJS-IV型系(xi)列智能(neng)(neng)化介質損耗(hao)測試儀是(shi)(shi)一種先進的(de)測量介質損耗(hao)（tgδ）和電(dian)(dian)容(rong)容(rong)量（Cx）的(de)儀器，用于工(gong)頻(pin)高壓(ya)(ya)下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電(dian)(dian)力電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)容(rong)器、互(hu)感器、變壓(ya)(ya)器等高壓(ya)(ya)設(she)備的(de)介質損耗(hao)（tgδ）和電(dian)(dian)容(rong)容(rong)量（Cx）。它淘汰了QSI高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)橋(qiao)，具有操(cao)作(zuo)簡單、中文顯(xian)示、打印，使用方便、無需換(huan)算、自帶高壓(ya)(ya)，抗*力強(qiang)等優點(dian)。SXJS-IV體積小、重量輕，是(shi)(shi)我廠的(de)第三代智能(neng)(neng)化介質損耗(hao)測試儀。

二、技(ji)術指標(biao)

1、環(huan)境溫度：0~40℃（液(ye)晶屏應避免(mian)長時(shi)日照）

2、相對濕度：30％~70％

3、供電電源：電壓：220V±10％，頻(pin)率50±1Hz

4、外(wai)形尺(chi)寸：長×寬×高(gao)=4900mm×300mm×390mm

5、重量：約(yue)18kg

6、輸(shu)出功率：1KVA

7、顯示分辨率：4位

8、測量范圍：

介質(zhi)損耗（tgδ）：0-50％

電容容量（Cx）和加載電壓：

2.5KV檔：≤300nF（300000pF）

3KV檔：≤200nF（200000pF）

5KV檔：≤76nF（76000pF）

7.5KV檔：≤34nF（34000pF）

10KV檔(dang)：≤20nF（20000pF）

9、基本測量誤差(cha)：

介質損耗（tgδ）：1％±0.07％（加載電流20μA~500mA）正接

介質損耗（tgδ）：2％±0.09％（加載電流5μA~20mA）反接

電容(rong)容(rong)量（Cx）：1.5%±1.5pF

三、結構

儀器為(wei)升壓與測量一體化結構，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調，以適應各種需要，在測量對無需任何外部設備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。

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