交(jiao)流與直(zhi)流耐壓測試儀區別(bie)應用說明

耐壓測試（ Withstanding Voltage Test ）又稱作高壓測試（ Hipot Test ）或介電強度測試（ Dielectric Test ），可能是大家熟悉和在產品流程安全測試中用的zui多的。

耐壓測試(shi)(shi)是一(yi)種無破壞(huai)性的(de)測試(shi)(shi)，它用(yong)來檢測經(jing)常發生的(de)瞬態高(gao)壓下(xia)產品(pin)的(de)絕緣(yuan)能力是否合(he)格。它在一(yi)定時間內(nei)施加高(gao)壓到被測試(shi)(shi)設備(bei)以確(que)保(bao)設備(bei)的(de)絕緣(yuan)性能足夠強。

測(ce)(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)，大部分的安全(quan)標準允許在耐壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)中(zhong)使(shi)(shi)用交流或直(zhi)流電(dian)壓(ya)。若(ruo)使(shi)(shi)用交流測(ce)(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)，當達到電(dian)壓(ya)峰(feng)值時(shi)，無(wu)論是正極性還是負極性峰(feng)值時(shi)，待測(ce)(ce)絕(jue)緣體都承受zui大壓力。因此，如果決定選擇使用直流電壓測試，就必須確保直流測試電壓是交流測試電壓的 倍，這樣直流電壓才可以與交流電壓峰值等值。例如： 1500V 交流電壓，對于直流電壓若要產生相同數量的電應力必須為 1500 × 1.414 即 2121V 直流電壓。

使(shi)用直(zhi)(zhi)流(liu)測試電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)其(qi)中一個好(hao)處(chu)在(zai)(zai)(zai)(zai)于在(zai)(zai)(zai)(zai)直(zhi)(zhi)流(liu)模式下(xia)，流(liu)過耐壓(ya)測試儀(yi)報(bao)警(jing)電(dian)(dian)(dian)流(liu)測量裝置的(de)是(shi)(shi)真正的(de)流(liu)過樣(yang)品(pin)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)。采用直(zhi)(zhi)流(liu)測試的(de)另一個好(hao)處(chu)在(zai)(zai)(zai)(zai)于可(ke)以(yi)逐漸的(de)施加(jia)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)。在(zai)(zai)(zai)(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)增加(jia)時通過監(jian)視流(liu)過樣(yang)品(pin)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)，操作(zuo)者可(ke)以(yi)在(zai)(zai)(zai)(zai)擊穿發(fa)生前察覺到(dao)。需要注意的(de)是(shi)(shi)當使(shi)用直(zhi)(zhi)流(liu)耐壓(ya)測試儀(yi)時，由(you)于電(dian)(dian)(dian)路中的(de)電(dian)(dian)(dian)容充電(dian)(dian)(dian)，必須在(zai)(zai)(zai)(zai)測試完成后對樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)放(fang)電(dian)(dian)(dian)。事實(shi)上(shang)，無(wu)論是(shi)(shi)測試電(dian)(dian)(dian)壓(ya)是(shi)(shi)多(duo)少(shao)、其(qi)產品(pin)特點(dian)如何(he)，在(zai)(zai)(zai)(zai)操作(zuo)產品(pin)前對其(qi)放(fang)電(dian)(dian)(dian)都(dou)是(shi)(shi)有(you)好(hao)處(chu)的(de)。

直(zhi)流(liu)(liu)耐壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試(shi)的不(bu)足在(zai)于它只能(neng)(neng)在(zai)一個(ge)方向施加(jia)測(ce)(ce)試(shi)電壓(ya)(ya)，不(bu)能(neng)(neng)像交流(liu)(liu)測(ce)(ce)試(shi)那樣可(ke)以在(zai)兩個(ge)極性上施加(jia)電應力，而多(duo)數電子產(chan)品正是在(zai)交流(liu)(liu)電源下進行工(gong)作的。另外(wai)，由于直(zhi)流(liu)(liu)測(ce)(ce)試(shi)電壓(ya)(ya)較難產(chan)生(sheng)，因此直(zhi)流(liu)(liu)測(ce)(ce)試(shi)比(bi)交流(liu)(liu)測(ce)(ce)試(shi)成本(ben)要高。

交流耐壓測(ce)試的(de)優點在于 , 它可以檢測所有的電壓極性，這更接近與實際的實用情況。另外，由于交流電壓不會對電容充電，因此大多數情況下，無需逐漸升壓，直接輸出相應的電壓就可以得到穩定的電流值。并且，交流測試完成后，無需進行樣品放電。

交流耐壓測(ce)試的(de)(de)不(bu)足在于，如(ru)果(guo)測(ce)試中(zhong)(zhong)的(de)(de)線路中(zhong)(zhong)有大的(de)(de) Y 電容，在某些情況下，交流測試將會誤判。大部分安全標準允許使用者在測試前不連接 Y 電容，或者改為使用直流測試。直流耐壓測試在加高電壓于 Y 電容時，不會誤判，因為此時電容不會允許任何電流通過。

交流(liu)耐壓(ya)試驗是鑒定電力設(she)備絕(jue)緣(yuan)強(qiang)度zui有效和zui直接的方法。

電(dian)(dian)(dian)(dian)力設(she)備(bei)(bei)在(zai)(zai)運(yun)(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)中(zhong)，絕緣長(chang)(chang)期受(shou)到電(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)、溫度(du)、和機械振動(dong)的(de)(de)(de)作(zuo)(zuo)(zuo)用會(hui)逐漸發生劣(lie)(lie)化其(qi)中(zhong)包括(kuo)整體劣(lie)(lie)化，形成缺(que)陷。例如由于(yu)局部(bu)地(di)方(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)比較(jiao)(jiao)集中(zhong)或者(zhe)局部(bu)絕緣比較(jiao)(jiao)脆弱就存在(zai)(zai)局部(bu)的(de)(de)(de)缺(que)陷。各種預防性試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)方(fang)法(fa)，各有其(qi)長(chang)(chang)，均能分別(bie)發現一(yi)些(xie)缺(que)陷，反映(ying)出(chu)絕緣的(de)(de)(de)狀況(kuang)，但其(qi)他試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)方(fang)法(fa)的(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓往(wang)往(wang)都低于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)力設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)(de)工作(zuo)(zuo)(zuo)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓，作(zuo)(zuo)(zuo)為安(an)(an)全(quan)運(yun)(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)的(de)(de)(de)保證還(huan)不夠有力。直流耐(nai)壓試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)雖然試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓比較(jiao)(jiao)高(gao)，能發現一(yi)些(xie)絕緣的(de)(de)(de)弱點，但是由于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)力設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)(de)絕緣大多數(shu)都是組(zu)合(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)介質，在(zai)(zai)直流電(dian)(dian)(dian)(dian)壓的(de)(de)(de)作(zuo)(zuo)(zuo)用下(xia)，其(qi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓是按電(dian)(dian)(dian)(dian)阻分布的(de)(de)(de)，所以交流電(dian)(dian)(dian)(dian)力設(she)備(bei)(bei)在(zai)(zai)交流電(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)下(xia)的(de)(de)(de)弱點使用直流作(zuo)(zuo)(zuo)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)就不一(yi)定(ding)能夠發現。交流耐(nai)壓試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)符合(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)力設(she)備(bei)(bei)在(zai)(zai)運(yun)(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)中(zhong)所承受(shou)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)氣狀況(kuang)，同時交流耐(nai)壓試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)一(yi)般比運(yun)(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓高(gao)，因此(ci)通過試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)后(hou)，設(she)備(bei)(bei)有較(jiao)(jiao)大的(de)(de)(de)安(an)(an)全(quan)裕度(du)，所以這種試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)已經(jing)成為保證安(an)(an)全(quan)運(yun)(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)的(de)(de)(de)一(yi)個重要手段。

但是由于交(jiao)流(liu)耐壓(ya)(ya)(ya)試驗(yan)所采用的(de)試驗(yan)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)比運行電(dian)壓(ya)(ya)(ya)高(gao)得多，過高(gao)的(de)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)會使絕緣(yuan)介質損失增(zeng)大(da)、發熱、放電(dian)，會加速絕緣(yuan)缺陷的(de)發現，因此(ci)，從某(mou)種意義上講，交(jiao)流(liu)耐壓(ya)(ya)(ya)試驗(yan)是一(yi)種破壞性試驗(yan)。

在進行交流耐壓試驗(yan)(yan)前(qian)，必(bi)須(xu)先(xian)進行各項(xiang)非破(po)壞(huai)性試驗(yan)(yan)，如(ru)測量絕緣(yuan)電阻、吸收比(bi)、介質(zhi)損耗因數(shu)tgδ、直流泄漏電流等，對各項試驗結果進行綜合分析，以決定該設備是否受潮或含有缺陷。若發現己存在問題，需預先進行處理，待缺陷消除后，方可進行交流耐壓試驗，以免在交流耐壓試驗過程中，發生絕緣擊穿，擴大絕緣缺陷，延長檢修時間，增加檢修工作量。

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